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本文標題:目前表面粗糙測量技術的研究趨勢

信息分類:站內新聞 新聞來源:未知 發布時間:2016-4-4 17:45:09
目前表面粗糙測量技術的研究趨勢

       隨著光學、電子學以及計算機等技術的不斷進步,同時也拓展出
了表面粗糙測量技術的研究方向。

       自20世紀80年代不斷的研發設計出各種顯微鏡。其中不但包括原子力
顯微鏡、掃描隧道顯微鏡、掃描近場光學顯微鏡還有光子掃描隧道顯微鏡
等。
       將這些顯微鏡技術和計算機視覺技術相融合進行研究,來進行表面粗
糙度測量成為表面粗糙度測量技術研究新的熱點。

       在很多領域中,比如科學研究中以及生產中,這其中都有一些外部因
素的限制,就比如工作環境的限制,要求在這些限制下進行線測量。這就需
要進行非接觸式的,且高效可靠的測量方法進行研究。

       在實現上面的在線測量的基礎上,還要向三維的更高精度的表面粗糙
度測量技術的方向上進行發展延伸。

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本文出自上海永亨光學儀器有限公司,本文地址:http://www.cqfhjd.com/xinwen/2128.html  
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