本文標(biāo)題:偏光顯微觀察與礦物質(zhì)的檢測(cè)

偏光顯微觀察與礦物質(zhì)的檢測(cè)

對(duì)于偏光顯微鏡來說，它主要是由機(jī)械部件與光學(xué)部件
以及照明系統(tǒng)組合而成的。

因此我們可以說前透鏡愈小則顯微觀察時(shí)鏡頭就愈長(zhǎng)，
同時(shí)顯微觀察時(shí)的放大倍數(shù)就愈大。

對(duì)于晶體物質(zhì)表面上的解理與解理角，則是一種地晶體
表面上沿著一定方向裂開而形成的光滑的平面的性質(zhì)稱
為解理。

因此對(duì)于七色光波吸收的不同程度就會(huì)出現(xiàn)不同的顏色
，這樣在透射后出現(xiàn)晶體顏色仍然是白光，只是光的強(qiáng)
度有所變化，而對(duì)于這種情況下人們稱為無色晶體。

而對(duì)于晶體中心一條比較亮的細(xì)線就是貝克線，當(dāng)貝克
線發(fā)生則是由于相鄰兩個(gè)物質(zhì)折射率的不同在通過表面
時(shí)發(fā)生折射反射后引起的貝克線的規(guī)律。

將本頁(yè)加入收藏

下一篇：偏光顯微鏡有解理面與試板 　　　　　 上一篇：使用顯微鏡檢測(cè)晶體物質(zhì)的形態(tài)是什么

本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://www.cqfhjd.com/xinwen/1865.html 　
工業(yè)顯微鏡測(cè)量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科