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型號：JDG-S3液晶數(shù)顯立式光學計
JDG-S3立式光學計是一般是用標準器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。
一. 產品簡介
JDG-S3立式光學計是一般是用標準器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。
二. 技術規(guī)格
1.被測件最大長度：200 mm
2.直接測量范圍：10mm
3.最小顯示值：0.05μm
4.測量力：(2±0.2) N
5.示值變動性：0.1 μm
6.最大不準確度：±0.25 μm
7.讀數(shù)方式：液晶數(shù)字顯示，3英寸液晶顯示屏
8.最大測量誤差：±(0.5+L/100)μm ，L是被測長度,以mm計
9.儀器體積：300×170×410 mm
10.儀器重量：18 kg
